UP501
  UNTESTABLE ANALOG TESTS DIGITAL TESTS STUCK FAULT TESTS
Pin Grid Nail Net Name Pin Attribute BScan Attribute PWR NC Analog CD TJ MDA STT VM PAT TTL MEM OBP I2C BS TPG TREE CLK Drives Senses Stuck Fault Result
1 1 1175 P_VDDQ_BOOT_20 NA NA       X                                      
2 2 1176 P_VDDQ_UGATE_20 NA NA       X                                      
3 3 1147 P_VDDQ_PHASE_20 NA NA No Test
4 4 1146 P_VDDQ_LGATE_20 NA NA       X                                      
5 5 1177 P_VDDQ_VCC_20 NA NA VCC      
6 6 1159 P_VDDQ_FB_10 NA NA       X                                      
7 7 1166 P_VDDQ_COMP_10 NA NA       X                                      
8 8 1173 P_+VDDQ_PG1_10 NA NA       X                                      
9 9 1167 P_VDDQ_OFS_10 NA NA       X                                      
10 10 1169 P_VDDQ_REFOUT_10 NA NA       X                                      
11 11 1 GND NA NA GND      
12 12 1 GND NA NA GND      
13 13 1 GND NA NA GND      
Total   4     8                                      

¡@

  Analog Test Digital Test Overall
Tested Pins 8 0 8
Testable Pins 9 9 9
Coverage 88.9% 0.0% 88.9%