UBU3
  UNTESTABLE ANALOG TESTS DIGITAL TESTS STUCK FAULT TESTS
Pin Grid Nail Net Name Pin Attribute BScan Attribute PWR NC Analog CD TJ MDA STT VM PAT TTL MEM OBP I2C BS TPG TREE CLK Drives Senses Stuck Fault Result
1 1 4 +12V NA NA No Test
2 2 660 LS_COM1_DCD1_ NA NA No Test
3 3 665 LS_COM1_DSR1_ NA NA No Test
4 4 667 LS_COM1_RXD1 NA NA No Test
5 5 662 LS_COM1_RTS1_ NA NA       X                                      
6 6 661 LS_COM1_TXD1 NA NA       X                                      
7 7 664 LS_COM1_CTS1_ NA NA No Test
8 8 666 LS_COM1_DTR1_ NA NA       X                                      
9 9 663 LS_COM1_RI1_ NA NA No Test
10 10 5 -12V NA NA No Test
11 11 1 GND NA NA GND      
12 12 659 O_COM1_RI1__Q NA NA       X                                      
13 13 558 O_COM1_DTR1_ NA NA No Test
14 14 570 O_COM1_CTS1_ NA NA No Test
15 15 557 O_COM1_TXD1 NA NA No Test
16 16 556 O_COM1_RTS1_ NA NA No Test
17 17 574 O_COM1_RXD1 NA NA No Test
18 18 573 O_COM1_DSR1_ NA NA No Test
19 19 571 O_COM1_DCD1_ NA NA No Test
20 20 3 +5V NA NA VCC      
Total   2     4                                      

¡@

  Analog Test Digital Test Overall
Tested Pins 4 0 4
Testable Pins 18 18 18
Coverage 22.2% 0.0% 22.2%